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高效过滤器通过X 射线摄像技术进行内部结构的可视化研究

为了弥补 SEM 方法在高效过滤器可视化研究的不足，起源于医学领域的新的成像技术在多孔材料领域得到应用，如：X射线计算机化断层摄影扫描仪（X ray Computerized Tomographic Scanner，医学上称其为CT）。所谓CT 就是在很多角度上对物体进行投影，穿过物体的射线由探测器接收，输入计算机，然后在计算机里用数学方法将其处理成一个断面图像。

CT 技术发展日新月异，由一个探测器发展到几百个乃至上千个探测器；由不到180°扫描发展为360°扫描乃至螺旋扫描，扫描一个层面的时间由几十分钟缩短为几十毫秒。X 射线计算化微观断面摄像已得到发展而且一般广泛地应用在研究多孔材料领域。

Badel 等人利用X 射线显微照相术获得了大量有关玻璃丝在机械压力下发生形变的信息；Maschio等人[9]利用X 射线显微照相术在17μm 的像素分辨率下，观察到一种嵌入式高效过滤器的结构；另一项研究[10]利用X 射线显微照相术在370×370×300μm的像素分辨率下在一深层过滤器内鉴别捕获到的颗粒。然而，仅仅少数研究工作是针对于纤维材料，而且若采用全景系统，会存在检查速度、分辨率和准确度之间折衷的问题。对于高效过滤器（无纺布纤维结构），由于测试样本较大，必然会影响测试的空间分布率。

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